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電鍍層測厚儀的三種測量原理

更新時間:2025-01-20點擊次數:1080
  電鍍層測厚儀是一種用于測量電鍍層以及其他類型覆蓋層(如涂層、敷層、貼層和化學生成膜)厚度的儀器。
 
  電鍍層測厚儀的工作原理根據其測量方式的不同而有所差異,主要包括以下幾種:
 
  1、磁性法:
 
  利用永久磁鐵(測頭)與導磁鋼材之間的吸力大小來測量覆層的厚度。這種吸力與處于兩者之間的距離成一定比例關系,該距離即為覆層的厚度。
 
  適用于測量鋼、鐵等鐵磁質金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層,如漆、粉末、塑料等。
 
  2、電渦流法:
 
  利用高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場,當測頭靠近導體時,在其中形成渦流。渦流的大小與測頭與導電基體之間的距離有關,從而可以表征覆層的厚度。
 
  適用于測量銅、鋁、鋅、錫等非鐵磁金屬基體上的琺瑯、橡膠、油漆等覆層。
 
  3、X射線熒光法:
 
  通過X射線照射樣品,測量反射出來的X射線的強度來推算鍍層的厚度。
 
  適用于測量極薄鍍層、雙鍍層以及合金鍍層等。
 
  天瑞X射線測厚儀thick8000是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。全自動智能控制方式,一鍵式操作!采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度。